상명대학교 공과대학 시스템반도체공학과 4학년 이지은, 임준호, 주연우, 홍성민 학생들이 참여한 연구논문이 SCIE급 국제저명학술지인 ‘Micromachines’에 게재됐다.게재된 논문의 제목은 “Temperature Scaling과 LIME을 적용한 CNN기반 웨이퍼 결함 분류 모델의 신뢰도 및 해석 가능성 향상(Enhancing Confidence and Interpretability of a CNN-Based Wafer Defect Classification Model Using Temperature